激光粒度儀測試時遮光比的選取問題

　　遮光比就是在使用激光粒度儀測試樣品時，配置的樣品懸浮液的濃度，遮光比的正確選擇是激光粒度儀在粒度測試過程中的一個重要的步驟，遮光比是否合適或者說被測樣品的濃度是否合適嚴重關系到粒度測量結果的準確性和代表性。

　　激光粒度儀的測量原理要求在測試過程中，樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發(fā)生二次散射為原則，理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍,但是這個要求非常難以掌握，因此在實際的粒度測試中，通過調整遮光比的數(shù)值來盡量保證顆粒之間不發(fā)生二次散射。遮光比不宜過大(超過50%)或者過小(低于5%)，遮光比過大時，顆粒的濃度過高，容易發(fā)生二次散射，測量結果誤差增大;遮光比過低，樣品中顆粒的濃度太低，顆粒數(shù)太少，測試結果的代表性很差，甚至可能導致測試結果是無效的，因此在測試過程中，對遮光比的選取要通過反復試驗，以得到正確的測量結果。

　　一般來說，對于比較粗的樣品，遮光比可以選擇的比較高，如20~30%，正常情況可以為10~25%;對于超細的樣品，可以適當降低樣品的遮光比，但一般不要超過40%，這些都是實驗得到的經(jīng)驗數(shù)值，但最終還需通過反復實驗，找到對應樣品測試時遮光比的最佳數(shù)值。

　　激光粒度儀的量程是指系統(tǒng)所能達到的最大上限和最小下限，分全程量程和分檔量程兩種形式。

　　全程量程是從上限到下限一次測量，這種設置的優(yōu)點是操作簡便，重復性好，沒有歧義，是目前大多數(shù)國內外激光粒度儀制造商普遍采用的方式；分檔量程是在全量程中又分成若干段。

　　它的優(yōu)點是在探測器數(shù)量有限的情況下提高分辨率，缺點是容易產(chǎn)生歧義（同一個樣品在不同檔的測試結果不一致），調整過程容易產(chǎn)生誤差，是早期激光粒度儀采用的技術。